Публікація: Аналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
ХНУРЭ
Анотація
Предлагаются методы диагностирования цифровых систем на кристалле на основе использования дизъюнктивной нормальной формы, представляющей собой матрицу покрытия дефектов тестовыми последовательностями. Метод ориентирован на встроенное сервисное обслуживание функциональностей представленными IP модулями. Рассмотрена стратегия выбора контрольных точек, которая направлена на поиск кратного дефекта в функциональности системы на кристалле в реальном масштабе времени.
Опис
Ключові слова
система на кристалле, матрица покрытия дефектов
Цитування
Аналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах / В. И. Хаханов, А. В. Сушанов, А. В. Хаханова, С. В. Чумаченко // Прикладная радиоэлектроника. Состояние и перспективы развития (МРФ-2008) : материалы 3-го Междунар. радиоэлектрон. форума, 22-24 октября 2008 г. – Т. 5. – Харьков : АНПРЭ, ХНУРЭ. 2008. – С. 52–55.