Публікація:
Аналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorХаханов, В. И.
dc.contributor.authorСушанов, А. В.
dc.contributor.authorХаханова, А. В.
dc.contributor.authorЧумаченко, С. В.
dc.date.accessioned2025-10-26T08:09:06Z
dc.date.available2025-10-26T08:09:06Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractПредлагаются методы диагностирования цифровых систем на кристалле на основе использования дизъюнктивной нормальной формы, представляющей собой матрицу покрытия дефектов тестовыми последовательностями. Метод ориентирован на встроенное сервисное обслуживание функциональностей представленными IP модулями. Рассмотрена стратегия выбора контрольных точек, которая направлена на поиск кратного дефекта в функциональности системы на кристалле в реальном масштабе времени.
dc.identifier.citationАналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах / В. И. Хаханов, А. В. Сушанов, А. В. Хаханова, С. В. Чумаченко // Прикладная радиоэлектроника. Состояние и перспективы развития (МРФ-2008) : материалы 3-го Междунар. радиоэлектрон. форума, 22-24 октября 2008 г. – Т. 5. – Харьков : АНПРЭ, ХНУРЭ. 2008. – С. 52–55.
dc.identifier.urihttps://openarchive.nure.ua/handle/document/32993
dc.language.isoother
dc.publisherХНУРЭ
dc.subjectсистема на кристалле
dc.subjectматрица покрытия дефектов
dc.titleАналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах
dc.typeArticle
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
PrR_konf_2008_T5-52-55.pdf
Розмір:
225.64 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
10.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)