Аналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах

Хаханов, В. И.; Сушанов, А. В.; Хаханова, А. В.; Чумаченко, С. В.

Публікація:
Аналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Сушанов, А. В.
dc.contributor.author	Хаханова, А. В.
dc.contributor.author	Чумаченко, С. В.
dc.date.accessioned	2025-10-26T08:09:06Z
dc.date.available	2025-10-26T08:09:06Z
dc.date.issued	2008
dc.description.abstract	Предлагаются методы диагностирования цифровых систем на кристалле на основе использования дизъюнктивной нормальной формы, представляющей собой матрицу покрытия дефектов тестовыми последовательностями. Метод ориентирован на встроенное сервисное обслуживание функциональностей представленными IP модулями. Рассмотрена стратегия выбора контрольных точек, которая направлена на поиск кратного дефекта в функциональности системы на кристалле в реальном масштабе времени.
dc.identifier.citation	Аналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах / В. И. Хаханов, А. В. Сушанов, А. В. Хаханова, С. В. Чумаченко // Прикладная радиоэлектроника. Состояние и перспективы развития (МРФ-2008) : материалы 3-го Междунар. радиоэлектрон. форума, 22-24 октября 2008 г. – Т. 5. – Харьков : АНПРЭ, ХНУРЭ. 2008. – С. 52–55.
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/32993
dc.language.iso	other
dc.publisher	ХНУРЭ
dc.subject	система на кристалле
dc.subject	матрица покрытия дефектов
dc.title	Аналитический метод поиска дефектов в цифровых системах на кристаллах
dc.type	Article
dspace.entity.type	Publication