Публікація: Резонаторні та хвилеводні мікрохвильові сенсори в дослідженні властивостей напівпровідників
Завантаження...
Дата
2025
Автори
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХНУРЕ
Анотація
The study of electrophysical properties of semiconductor materials using microwave sensors is a promising direction due to its versatility and wide range of capabilities. The methodology allows working with various types of semiconductors, does not impose strict limitations on sample shapes, and provides the opportunity for non-electrode measurements, which enhances the accuracy of the analysis. This paper discusses resonator and waveguide microwave sensors for the diagnostics of semiconductor and dielectric materials. Approaches to improving measurement accuracy are proposed. The results obtained contribute to the advancement of diagnostic methods for the electrophysical properties of materials and expand their areas of application.
Опис
Ключові слова
мікрохвильовий сенсор, дослідження властивостей напівпровідників
Бібліографічний опис
Оксенюк А. Резонаторні та хвилеводні мікрохвильові сенсори в дослідженні властивостей напівпровідників / А. Оксенюк, С. В. Бабиченко // Радіоелектроніка та молодь у XXI столітті : матеріали 29-го Міжнар. молодіж. форуму, 16–19 квітня 2025 р. – Харків : ХНУРЕ, 2025. – Т. 1. – С. 79–81.