Публікація:
Вплив хімічної обробки на шорсткість поверхні кремнієвих пластин

Завантаження...
Зображення мініатюри

Дата

Назва журналу

ISSN журналу

Назва тому

Видавець

ХНУРЕ

Дослідницькі проекти

Організаційні одиниці

Випуск журналу

Анотація

This article discusses the effect of chemical treatment on the roughness of a silicon wafer surface.

Опис

Ключові слова

кремнієва пластина, хімічна обробка, шорсткість

Цитування

Теслюк С. І. Вплив хімічної обробки на шорсткість поверхні кремнієвих пластин / Теслюк С.І. // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : матеріали 24 Міжнар. молодіж. форуму, 7-9 квіт. 2020р. – Харків : ХНУРЕ, 2020. – Т. 2. – С. 39-40.

DOI

Схвалення

Рецензія

Доповнено

На які посилаються