Публікація: Анализ шумовых факторов полупроводниковых детекторов ионизирующего излучения
Завантаження...
Дата
2010
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
Харків: ХНУРЕ
Анотація
Factors, influencing of semiconductor detectors of an ionising radiation are analysed in the report. The analytical expressions for noise characteristics of CaTe and CaZnTe based detectors in terms of equivalent noise charge (ENC) are resulted, allowing to execute noise level calculation and optimise the configuration of such detectors.
Опис
Ключові слова
полупроводниковый детектор, методика анализа шумов, СВЧ-тракт
Бібліографічний опис
Гордиенко Ю. Е. Анализ шумовых факторов полупроводниковых детекторов ионизирующего излучения / Ю. Е. Гордиенко , Б. Г. Бородин, А. Б. Галат // 3-я Международная научная конференция «Функциональная компонентная база микро-, опто- и наноэлектроники». Сб. науч. трудов. – Харьков: ХНУРЭ, 2010. – С. 294–296.