Публікація: Анализ шумовых факторов полупроводниковых детекторов ионизирующего излучения
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
Харків: ХНУРЕ
Анотація
Factors, influencing of semiconductor detectors of an ionising radiation are analysed in the report. The analytical expressions for noise characteristics of CaTe and CaZnTe based detectors in terms of equivalent noise charge (ENC) are resulted, allowing to execute noise level calculation and optimise the configuration of such detectors.
Опис
Ключові слова
Цитування
Гордиенко Ю. Е. Анализ шумовых факторов полупроводниковых детекторов ионизирующего излучения / Ю. Е. Гордиенко , Б. Г. Бородин, А. Б. Галат // 3-я Международная научная конференция «Функциональная компонентная база микро-, опто- и наноэлектроники». Сб. науч. трудов. – Харьков: ХНУРЭ, 2010. – С. 294–296.