Анализ шумовых факторов полупроводниковых детекторов ионизирующего излучения

Галат, А. Б.; Гордиенко, Ю. Е.; Бородин, Б. Г.

Публікація:
Анализ шумовых факторов полупроводниковых детекторов ионизирующего излучения

dc.contributor.author	Галат, А. Б.
dc.contributor.author	Гордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.author	Бородин, Б. Г.
dc.date.accessioned	2018-07-24T08:41:59Z
dc.date.available	2018-07-24T08:41:59Z
dc.date.issued	2010
dc.description.abstract	Factors, influencing of semiconductor detectors of an ionising radiation are analysed in the report. The analytical expressions for noise characteristics of CaTe and CaZnTe based detectors in terms of equivalent noise charge (ENC) are resulted, allowing to execute noise level calculation and optimise the configuration of such detectors.	uk_UA
dc.identifier.citation	Гордиенко Ю. Е. Анализ шумовых факторов полупроводниковых детекторов ионизирующего излучения / Ю. Е. Гордиенко , Б. Г. Бородин, А. Б. Галат // 3-я Международная научная конференция «Функциональная компонентная база микро-, опто- и наноэлектроники». Сб. науч. трудов. – Харьков: ХНУРЭ, 2010. – С. 294–296.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/6643
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Харків: ХНУРЕ	uk_UA
dc.subject	полупроводниковый детектор	uk_UA
dc.subject	методика анализа шумов	uk_UA
dc.subject	СВЧ-тракт	uk_UA
dc.title	Анализ шумовых факторов полупроводниковых детекторов ионизирующего излучения	uk_UA
dc.type	Thesis	uk_UA
dspace.entity.type	Publication