Публікація: Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
ХНУРЭ
Анотація
Предложен безусловный алгоритм диагностирования цифровых устройств, использующий заложенную на стадии проектирования тестопригодность
Опис
Ключові слова
Цитування
Хаханов В. И. Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур / В. И. Хаханов, О. Б. Скорцова, И. В. Монжаренко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 2. – С. 127-129.