Публікація: Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур
Завантаження...
Дата
1998
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХНУРЭ
Анотація
Предложен безусловный алгоритм диагностирования цифровых устройств, использующий заложенную на стадии проектирования тестопригодность
Опис
Ключові слова
алгоритм диагностирования, диагностика цифровых устройств
Бібліографічний опис
Хаханов В. И. Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур / В. И. Хаханов, О. Б. Скорцова, И. В. Монжаренко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 2. – С. 127-129.