Публікація:
Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorХаханов, В. И.
dc.contributor.authorСкорцова, О. Б.
dc.contributor.authorМонжаренко, И. В.
dc.date.accessioned2018-11-16T14:01:32Z
dc.date.available2018-11-16T14:01:32Z
dc.date.issued1998
dc.description.abstractПредложен безусловный алгоритм диагностирования цифровых устройств, использующий заложенную на стадии проектирования тестопригодностьuk_UA
dc.identifier.citationХаханов В. И. Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур / В. И. Хаханов, О. Б. Скорцова, И. В. Монжаренко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 2. – С. 127-129.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/7266
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectалгоритм диагностированияuk_UA
dc.subjectдиагностика цифровых устройствuk_UA
dc.titleАлгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структурuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
35Hahanov_127_129.pdf
Розмір:
245.07 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Радиоэлектроника и информатика