Публікація: Встроенное диагностирование цифровых систем
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
Анотація
Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения – System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP- функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip)
Опис
Ключові слова
диагностирование цифровых систем, восстановление работоспособности, матрица логических блоков, программируемая логика, SiP, SoC
Цитування
Хаханов В. И. Вбудоване діагностування цифрових систем / В. И. Хаханов, С. В. Чумаченко, Tiecoura Yves, С. С. Галаган // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС). - 2009. - С. 314-318.