Публікація: Встроенное диагностирование цифровых систем
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
Анотація
Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения – System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP- функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip)
Опис
Цитування
Хаханов В. И. Вбудоване діагностування цифрових систем / В. И. Хаханов, С. В. Чумаченко, Tiecoura Yves, С. С. Галаган // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС). - 2009. - С. 314-318.