Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2178
Title: Встроенное диагностирование цифровых систем
Authors: Хаханов, В. И.
Чумаченко, С. В.
Yves, T.
Галаган, С. С.
Keywords: деффект
восстановление работоспособности
матрица логических блоков
программируемая логика
SiP
SoC
Issue Date: 2009
Publisher: Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
Citation: Хаханов В. И. Вбудоване діагностування цифрових систем / Хаханов В. И., Чумаченко С. В. Tiecoura Yves, Галаган С. С. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2009
Abstract: Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения – System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP- функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip)
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2178
Appears in Collections:Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Хаханов_РЕКС_2009_7(41)_2.pdf1.01 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.