Публікація:
Встроенное диагностирование цифровых систем

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorХаханов, В. И.
dc.contributor.authorЧумаченко, С. В.
dc.contributor.authorYves, T.
dc.contributor.authorГалаган, С. С.
dc.date.accessioned2016-09-06T11:53:09Z
dc.date.available2016-09-06T11:53:09Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractРассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения – System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP- функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip)uk_UA
dc.identifier.citationХаханов В. И. Вбудоване діагностування цифрових систем / В. И. Хаханов, С. В. Чумаченко, Tiecoura Yves, С. С. Галаган // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС). - 2009. - С. 314-318. uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/2178
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherНауково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)uk_UA
dc.subjectдиагностирование цифровых системuk_UA
dc.subjectвосстановление работоспособностиuk_UA
dc.subjectматрица логических блоковuk_UA
dc.subjectпрограммируемая логикаuk_UA
dc.subjectSiPuk_UA
dc.subjectSoCuk_UA
dc.titleВстроенное диагностирование цифровых системuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
hahanov2009.pdf
Розмір:
1012.35 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)