Методи діагностування запам'ятовуючих пристроїв на основі часових рекурсивних автоматів

Abstract

Розглянуто існуючі алгоритми тестування RAM. Розглянуто концепцію BIST. Для синтезу алгоритмів і програм тестів діагностування запам’ятовуючих пристроїв запропоновано систему генерації та контролю за виконанням тестів, що містить пристрій управління, матрицю запам’ятовуючих комірок і чотири головки запису (зчитування). Наведено приклад синтезу за допомогою даної системи тесту March С-. Запропоновано реалізацію алгоритму шляхом автоматного проектування, а саме за допомогою моделі часового рекурсивного автомату. Спроектовану систему імплементовано та протестовано на FPGA Xilinx Spartan6.