Публікація: Динамика электротепловых процессов в диэлектрических структурах микросхем при воздействии электромагнитных полей
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
ХНУРЭ
Анотація
Строится численная модель развития электротепловых процессов в проводящих и диэлектрических микроструктурных элементах микросхем при воздействии СВЧ электромагнитных полей с учетом тепловых потерь в диэлектрических структурах. Описываются выражения для удельной мощности тепловых потерь в диэлектрических структурах микросхем. Выявляется динамика изменения температурного поля кристалла микросхемы с учетом неравномерного разогрева металлизации и диэлектрических участков.
Опис
Ключові слова
модель развития электротепловых процессов, радиоэлектроника
Цитування
Динамика электротепловых процессов в диэлектрических структурах микросхем при воздействии электромагнитных полей / В. В. Старостенко, М. П. Грибский, Д. А. Полетаев, Е. П. Таран, Г. И. Чурюмов // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2007. – Вып. 2. – С. 45–49.