Модель тестирования программных и аппаратных компонентов цифровых систем на кристаллах

Хаханов, В. И.; Баранник, В. В.; Краснояружская, К. Ш.; Каминская, М. А.

Публікація:
Модель тестирования программных и аппаратных компонентов цифровых систем на кристаллах

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Баранник, В. В.
dc.contributor.author	Краснояружская, К. Ш.
dc.contributor.author	Каминская, М. А.
dc.date.accessioned	2025-10-26T08:01:22Z
dc.date.available	2025-10-26T08:01:22Z
dc.date.issued	2008
dc.description.abstract	Представлены модели и методы тестопригодного проектирования программных продуктов, основанные на модификациях технологических и технических решений синтеза и анализа цифровых систем на кристаллах, представленных моделями программных и аппаратных компонентов в виде ориентированных графов регистровых передач и управления вычислительным процессом, которые используются для тестопригодного анализа и синтеза тестов.
dc.identifier.citation	Модель тестирования программных и аппаратных компонентов цифровых систем на кристаллах / В. И. Хаханов, В. В. Баранник, К. Ш. Краснояружская, М. А. Каминская // Прикладная радиоэлектроника. Состояние и перспективы развития (МРФ-2008) : материалы 3-го Междунар. радиоэлектрон. форума, 22-24 октября 2008 г. – Т. 5. – Харьков : АНПРЭ, ХНУРЭ. 2008. – С. 26–29.
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/32992
dc.language.iso	other
dc.publisher	ХНУРЭ
dc.subject	система на кристаллах
dc.subject	тестопригодный анализ
dc.title	Модель тестирования программных и аппаратных компонентов цифровых систем на кристаллах
dc.type	Article
dspace.entity.type	Publication