Публікація: Модель тестирования программных и аппаратных компонентов цифровых систем на кристаллах
Немає доступних мініатюр
Дата
2008
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХНУРЭ
Анотація
Представлены модели и методы тестопригодного проектирования программных продуктов, основанные на модификациях технологических и технических решений синтеза и анализа цифровых систем на кристаллах, представленных моделями программных и аппаратных компонентов в виде ориентированных графов регистровых передач и управления вычислительным процессом, которые используются для тестопригодного анализа и синтеза тестов.
Опис
Ключові слова
система на кристаллах, тестопригодный анализ
Бібліографічний опис
Модель тестирования программных и аппаратных компонентов цифровых систем на кристаллах / В. И. Хаханов, В. В. Баранник, К. Ш. Краснояружская, М. А. Каминская // Прикладная радиоэлектроника. Состояние и перспективы развития (МРФ-2008) : материалы 3-го Междунар. радиоэлектрон. форума, 22-24 октября 2008 г. – Т. 5. – Харьков : АНПРЭ, ХНУРЭ. 2008. – С. 26–29.