Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності

Семьонов, А. В.

Публікація:
Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності

dc.contributor.author	Семьонов, А. В.
dc.date.accessioned	2022-02-08T20:04:06Z
dc.date.available	2022-02-08T20:04:06Z
dc.date.issued	2021
dc.description.abstract	Пропонуються комп’ютингові рішення для аналізу даних і діагностування технічного стану цифрових пристроїв на основі метрики подібності/відмінності. Аналізується стан питання. Пропонуються методи і алгоритми з їх кодовими реалізаціями для аналізу процесів і явищ, на основі векторних або табличних структур даних: 1) Інтерфейс введення даних. 2) Обчислення подібності/відмінності об'єктів. 3) Similarity-Difference method for Diagnosis Computing	uk_UA
dc.identifier.citation	Семьонов А. В. Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 123 Комп’ютерна інженерія / А. В. Семьонов ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2021. – 64 с.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/19566
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.subject	секвенсор	uk_UA
dc.subject	метрика подібності/відмінності	uk_UA
dc.subject	векторні структури даних	uk_UA
dc.subject	аналіз великих даних	uk_UA
dc.subject	кіберфізичний комп’ютинг	uk_UA
dc.subject	метод діагностики обчислень	uk_UA
dc.subject	відстань Левенштайна	uk_UA
dc.title	Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності	uk_UA
dc.type	Other	uk_UA
dspace.entity.type	Publication