Публікація:
Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності

Завантаження...
Зображення мініатюри

Дата

2021

Назва журналу

ISSN журналу

Назва тома

Видавництво

Дослідницькі проекти

Організаційні підрозділи

Видання журналу

Анотація

Пропонуються комп’ютингові рішення для аналізу даних і діагностування технічного стану цифрових пристроїв на основі метрики подібності/відмінності. Аналізується стан питання. Пропонуються методи і алгоритми з їх кодовими реалізаціями для аналізу процесів і явищ, на основі векторних або табличних структур даних: 1) Інтерфейс введення даних. 2) Обчислення подібності/відмінності об'єктів. 3) Similarity-Difference method for Diagnosis Computing

Опис

Ключові слова

секвенсор, метрика подібності/відмінності, векторні структури даних, аналіз великих даних, кіберфізичний комп’ютинг, метод діагностики обчислень, відстань Левенштайна

Бібліографічний опис

Семьонов А. В. Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 123 Комп’ютерна інженерія / А. В. Семьонов ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2021. – 64 с.

DOI