Публікація: Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності
Завантаження...
Дата
Автори
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
Анотація
Пропонуються комп’ютингові рішення для аналізу даних і діагностування технічного стану цифрових пристроїв на основі метрики подібності/відмінності. Аналізується стан питання. Пропонуються методи і алгоритми з їх кодовими реалізаціями для аналізу процесів і явищ, на основі векторних або табличних структур даних: 1) Інтерфейс введення даних. 2) Обчислення подібності/відмінності об'єктів. 3) Similarity- ifference method for Diagnosis Computing
Опис
Ключові слова
секвенсор, метрика подібності/відмінності, векторні структури даних, аналіз великих даних, кіберфізичний комп’ютинг, метод діагностики обчислень, відстань Левенштайна
Цитування
Семьонов А. В. Секвенсори аналізу даних в метриці подібності-відмінності : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 123 Комп’ютерна інженерія / А. В. Семьонов ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2021. – 64 с.