Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок

Публікація:
Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок

dc.contributor.author	Криштафович, С. А.
dc.contributor.author	Бородин, А. В.
dc.date.accessioned	2019-04-17T11:09:15Z
dc.date.available	2019-04-17T11:09:15Z
dc.date.issued	2017
dc.description.abstract	Thin films have different electro physical parameters: electro conductivity, thermal conductivity and electrical stability. This article is about device, which help analyze different temperature dependence. This device is built by microcontroller Atmega 256 and sensor Si7051.	uk_UA
dc.identifier.citation	Криштафович С. А. Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок / С. А. Криштафович, А. В. Бородин // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : зб. тез. доп. ХХI Харків. конф. молодих науковців, 25–27 квіт. 2017 р. – Харків, 2017. – С. 35.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/8391
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЕ	uk_UA
dc.subject	Измерения электрофизических параметров	uk_UA
dc.subject	Параметры тонких пленок	uk_UA
dc.title	Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок	uk_UA
dc.type	Thesis	uk_UA
dspace.entity.type	Publication

Показано 1 - 1 з 1

Назва:: Laboratornyy_maket_dlya_izmereniya_elektrofizicheskikh_parametrov_tonkikh_plenok.pdf
Розмір:: 413.52 KB
Формат:: Adobe Portable Document Format

Показано 1 - 1 з 1