Публікація:
Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorКриштафович, С. А.
dc.contributor.authorБородин, А. В.
dc.date.accessioned2019-04-17T11:09:15Z
dc.date.available2019-04-17T11:09:15Z
dc.date.issued2017
dc.description.abstractThin films have different electro physical parameters: electro conductivity, thermal conductivity and electrical stability. This article is about device, which help analyze different temperature dependence. This device is built by microcontroller Atmega 256 and sensor Si7051.uk_UA
dc.identifier.citationКриштафович С. А. Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок / С. А. Криштафович, А. В. Бородин // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : зб. тез. доп. ХХI Харків. конф. молодих науковців, 25–27 квіт. 2017 р. – Харків, 2017. – С. 35.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/8391
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЕuk_UA
dc.subjectИзмерения электрофизических параметровuk_UA
dc.subjectПараметры тонких пленокuk_UA
dc.titleЛабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленокuk_UA
dc.typeThesisuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
Laboratornyy_maket_dlya_izmereniya_elektrofizicheskikh_parametrov_tonkikh_plenok.pdf
Розмір:
413.52 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра мікроелектроніки, електронних приладів та пристроїв (МЕЕПП)