Публікація: Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок
Завантаження...
Дата
Автори
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
ХНУРЕ
Анотація
Thin films have different electro physical parameters: electro conductivity, thermal conductivity and electrical stability. This article is about device, which help analyze different temperature dependence. This device is built by microcontroller Atmega 256 and sensor Si7051.
Опис
Ключові слова
Измерения электрофизических параметров, Параметры тонких пленок
Цитування
Криштафович С. А. Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок / С. А. Криштафович, А. В. Бородин // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : зб. тез. доп. ХХI Харків. конф. молодих науковців, 25–27 квіт. 2017 р. – Харків, 2017. – С. 35.