Публікація:
Features of Decision Support’s Program at Choice of Tests Optimized Sequence for Semiconductors Memory Diagnosing

Завантаження...
Зображення мініатюри

Дата

2008

Назва журналу

ISSN журналу

Назва тома

Видавництво

ХНУРЭ

Дослідницькі проекти

Організаційні підрозділи

Видання журналу

Анотація

A method, which allows decreasing calculations works labour intensiveness at the choice of paret-optimum tests for semiconductors storage devices diagnosing is offered. This method is realized in the program Optimal-test, which allows decreasing the duration of memory’s microcircuits testing without worsening of their quality.

Опис

Ключові слова

diagnosing, microcircuit, memory

Бібліографічний опис

DOI