Публікація:
Features of Decision Support’s Program at Choice of Tests Optimized Sequence for Semiconductors Memory Diagnosing

dc.contributor.authorRyabtsev, V. G.
dc.contributor.authorAlmadi M. K.
dc.date.accessioned2016-09-05T08:37:52Z
dc.date.available2016-09-05T08:37:52Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractA method, which allows decreasing calculations works labour intensiveness at the choice of paret-optimum tests for semiconductors storage devices diagnosing is offered. This method is realized in the program Optimal-test, which allows decreasing the duration of memory’s microcircuits testing without worsening of their quality.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/2072
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectdiagnosinguk_UA
dc.subjectmicrocircuituk_UA
dc.subjectmemoryuk_UA
dc.titleFeatures of Decision Support’s Program at Choice of Tests Optimized Sequence for Semiconductors Memory Diagnosinguk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
RI_2008_1-084-095.pdf
Розмір:
618.12 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: