Публікація:
Оценка тестопригодности программных и аппаратных продуктов

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorХаханов, В. И.
dc.contributor.authorКаминская, М. А.
dc.contributor.authorМихтонюк, С. В.
dc.contributor.authorХван, Р. С.
dc.date.accessioned2025-10-26T07:41:35Z
dc.date.available2025-10-26T07:41:35Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractПредлагается метод анализа тестопригодности программных продуктов, представленных в виде композиции операционного и управляющего автоматов. Предлагается методология выбора контрольных точек для дальнейшего внедрения ассерций в описание устройства.
dc.identifier.citationОценка тестопригодности программных и аппаратных продуктов / В. И. Хаханов, М. А. Каминская, С. В. Михтонюк, Р. С. Хван // Прикладная радиоэлектроника. Состояние и перспективы развития (МРФ-2008) : материалы 3-го Междунар. радиоэлектрон. форума, 22-24 октября 2008 г. – Т. 5. – Харьков : АНПРЭ, ХНУРЭ. 2008. – С. 18–21
dc.identifier.urihttps://openarchive.nure.ua/handle/document/32990
dc.publisherХНУРЭ
dc.titleОценка тестопригодности программных и аппаратных продуктов
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
PrR_konf_2008_T5-18-21.pdf
Розмір:
143.72 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
10.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)