Основные аспекты общей теории сканирующей микроволновой микроскопии

Гордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.

Публікація:
Основные аспекты общей теории сканирующей микроволновой микроскопии

dc.contributor.author	Гордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.author	Ларкин, С. Ю.
dc.date.accessioned	2024-12-04T18:47:35Z
dc.date.available	2024-12-04T18:47:35Z
dc.date.issued	2010
dc.description.abstract	Приведены результаты численного, численно-аналитического и экспериментального исследования сигналообразования в сканирующей микроволновой микроскопии (СММ). Численное моделирование электродинамических характеристик взаимодействия коаксиального резонаторного микрозонда с диэлектрическими и полупроводниковыми объектами позволило установить зависимости сигналов первичного преобразования информации от геометрии апертуры зонда и электрофизических параметров объекта. Численно-аналитические и экспериментальные исследования последетекторного преобразования сигналов определили общие теоретические аспекты различных способов этой части сигналообразования. В целом созданы предпосылки формирования общей теории СММ.
dc.identifier.citation	Гордиенко Ю. Е. Основные аспекты общей теории сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии (КрыМиКо’2010) : материалы 20-ой Междунар. Крымская конф., 13-17 сентября 2010 г. – Севастополь : Вебер, 2010. – С. 1029–1030.
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/29368
dc.language.iso	other
dc.publisher	Вебер
dc.subject	микрозонд
dc.subject	микроволновая микроскопиия
dc.title	Основные аспекты общей теории сканирующей микроволновой микроскопии
dc.type	Conference proceedings
dspace.entity.type	Publication