Публікація: Методи діагностування запам'ятовуючих пристроїв на основі часових рекурсивних автоматів
Завантаження...
Дата
2022
Автори
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
Анотація
Розглянуто існуючі алгоритми тестування RAM. Розглянуто концепцію BIST. Для синтезу алгоритмів і програм тестів діагностування запам’ятовуючих пристроїв запропоновано систему генерації та контролю за виконанням тестів, що містить пристрій управління, матрицю запам’ятовуючих комірок і чотири головки запису (зчитування). Наведено приклад синтезу за допомогою даної системи тесту March С-. Запропоновано реалізацію алгоритму шляхом автоматного проектування, а саме за допомогою моделі часового рекурсивного автомату. Спроектовану систему імплементовано та протестовано на FPGA Xilinx Spartan6.
Опис
Ключові слова
рекурсивний автомат, march c- алгоритм, тести march, кінцевий автомат
Бібліографічний опис
Корнієнко М. Р. Методи діагностування запам'ятовуючих пристроїв на основі часових рекурсивних автоматів : пояснювальна записка до кваліфікаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 123 – Комп’ютерна інженерія / М. Р. Корнієнко ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2022. – 60 с.