Дослідження характеристик вихідних сигналів оптико-електронних систем з урахуванням процесів дефектоутворення в напівпровідниках

Таран, О. С.

Публікація:
Дослідження характеристик вихідних сигналів оптико-електронних систем з урахуванням процесів дефектоутворення в напівпровідниках

dc.contributor.author	Таран, О. С.
dc.date.accessioned	2023-05-12T16:04:25Z
dc.date.available	2023-05-12T16:04:25Z
dc.date.issued	2022
dc.description.abstract	Об’єкт дослідження: оптико-електронні системи. Мета роботи: дослідження параметрів та характеристик ОЕС. Метод дослідження – теоретичний аналіз. Актуальність роботи визначається тим, що нині у техніці відбувається інтенсивне використання електромагнітних коливань оптичного діапазону довжин хвиль. Розробка оптико-електронних приладів (ОЕП) є одним з перспективних напрямків сучасного оптичного приладобудування. Вони дають можливість отримувати, передавати та обробляти інформацію у всіх галузях оптичного спектру в результаті перетворення оптичних сигналів на електричні, а також дозволяють автоматизувати управління різними об'єктами та технічними процесами. Швидкому розвитку ОЕП сприяє промислове освоєння лазерів, що дозволяють створювати лазерні ОЕП із якісно відмінними характеристиками. Застосування голографічних методів обробки даних є основою голографічних ОЕП, здійснюють багатоканальне перетворення великих масивів інформації.
dc.identifier.citation	Таран О. С. Дослідження характеристик вихідних сигналів оптико-електронних систем з урахуванням процесів дефектоутворення в напівпровідниках : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 153 – Мікро- та наносистемна техніка / О. С. Таран ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки – Харків, 2022. - с.
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/22886
dc.language.iso	uk
dc.subject	оптико-електронна система
dc.subject	характеристика вихідних сигналів
dc.subject	дефектоутворення в напівпровідниках
dc.subject	промислове освоєння лазерів
dc.title	Дослідження характеристик вихідних сигналів оптико-електронних систем з урахуванням процесів дефектоутворення в напівпровідниках
dc.type	Other
dspace.entity.type	Publication