(КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ, 2025) Патров, Д. О.; Стрілкова, Т. О.
Обробка великих обсягів даних в оптико-електронних системах вимагає урахування статистичних властивостей вихідних сигналів. Шумові складові, корельовані завади та стохастичні флуктуації істотно впливають на точність та стабільність функціонування приладів. Застосування статистичних методів дозволяє підвищити достовірність аналізу та адаптивність систем до умов зовнішнього середовища.
(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2025) Пятайкіна, М. І.; Стрілкова, Т. О.
Напівпровідники – основа всієї сучасної електроніки. Їх електричні, оптичні, теплові та квантові властивості напряму залежать від просторової структури. Будь-які дефекти кристалічної решітки (дислокації, вакансії, включення) можуть істотно вплинути на провідність, надійність та довговічність електронних компонентів та пристроїв