За технічних причин Електронний архів Харківського національного університету радіоелектроніки «ElAr КhNURE» працює тільки на перегляд. Про відновлення роботи у повному обсязі буде своєчасно повідомлено.
 

Публікація:
Вивчення методу редукції системи структурних ознак зображення на основі метричного критерію інформативності

Завантаження...
Зображення мініатюри

Дата

2021

Назва журналу

ISSN журналу

Назва тома

Видавництво

Дослідницькі проекти

Організаційні підрозділи

Видання журналу

Анотація

Об’єктом дослідження є методи зменшення розмірності систем ознак для представлення даних у задачі класифікації зображень. Метою є розроблення методів, що дозволяють проводити редукцію системи структурних ознак на основі метричного критерію інформативності. Використано методи метричного аналізу даних, програмного моделювання. Проведено експериментальне дослідження методів редукції на прикладі множин ознак у вигляді наборів бінарних векторів. Критерієм результативності класифікації вибрані метрики Хаусдорфа та Танімото. Здійснена програмна реалізація для моделі редукції множини ознак у вигляді дескрипторів ключових точок зображення. Обсяг опису можна скоротити в два рази, не зменшуючи ефективність розпізнавання.

Опис

Ключові слова

класифікація зображень, PYTHON, ключові точки, дескриптор, редукція системи ознак, інформативність, метрика

Бібліографічний опис

Метелев В. В. Вивчення методу редукції системи структурних ознак зображення на основі метричного критерію інформативності : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 122 - Комп’ютерні науки / В. В. Метелев; М-во освіти та науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2021. – 70 с.

DOI