Вивчення методу редукції системи структурних ознак зображення на основі метричного критерію інформативності

Метелев, В. В.

Публікація:
Вивчення методу редукції системи структурних ознак зображення на основі метричного критерію інформативності

dc.contributor.author	Метелев, В. В.
dc.date.accessioned	2022-02-21T16:44:57Z
dc.date.available	2022-02-21T16:44:57Z
dc.date.issued	2021
dc.description.abstract	Об’єктом дослідження є методи зменшення розмірності систем ознак для представлення даних у задачі класифікації зображень. Метою є розроблення методів, що дозволяють проводити редукцію системи структурних ознак на основі метричного критерію інформативності. Використано методи метричного аналізу даних, програмного моделювання. Проведено експериментальне дослідження методів редукції на прикладі множин ознак у вигляді наборів бінарних векторів. Критерієм результативності класифікації вибрані метрики Хаусдорфа та Танімото. Здійснена програмна реалізація для моделі редукції множини ознак у вигляді дескрипторів ключових точок зображення. Обсяг опису можна скоротити в два рази, не зменшуючи ефективність розпізнавання.	uk_UA
dc.identifier.citation	Метелев В. В. Вивчення методу редукції системи структурних ознак зображення на основі метричного критерію інформативності : пояснювальна записка до атестаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 122 - Комп’ютерні науки / В. В. Метелев; М-во освіти та науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2021. – 70 с.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/19839
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.subject	класифікація зображень	uk_UA
dc.subject	PYTHON	uk_UA
dc.subject	ключові точки	uk_UA
dc.subject	дескриптор	uk_UA
dc.subject	редукція системи ознак	uk_UA
dc.subject	інформативність	uk_UA
dc.subject	метрика	uk_UA
dc.title	Вивчення методу редукції системи структурних ознак зображення на основі метричного критерію інформативності	uk_UA
dc.type	Other	uk_UA
dspace.entity.type	Publication