Публікація:
Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопии

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorГордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.authorЛаркин, С. Ю.
dc.contributor.authorМельник, С. И.
dc.contributor.authorСлипченко, Н. И.
dc.date.accessioned2016-08-01T08:13:17Z
dc.date.available2016-08-01T08:13:17Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractThe microwave tomography method is proposed, based on the separation of the reconstruction algorithm of scan results into three independent phase and layered reconstruction required distributions. Generalisation of 3-d reconstruction algorithm in case. Методы сканирующей зондовой микроскопии уже давно стали одним из основных средств исследований микро и наноструктур в различных областях науки и техники. Одним из таких методов является микроволновая сканирующая микроскопия (МСМ). К настоящему времени разработаны как различные микроволновые приставки к атомно-силовому микроскопу, так и серийный микроволновой микроскоп. В настоящей работе мы обобщим полученный нами ранее алоритм реконструкции распределения электрофизических свойств в методе МСМ на трехмерную задачу.uk_UA
dc.identifier.citationАлгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, С. И. Мельник, Н. И. Слипченко // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 156–159.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1693
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectмикроволновая сканирующая микроскопияuk_UA
dc.subjectмикроволновой микроскопuk_UA
dc.subjectатомно-силовой микроскопuk_UA
dc.titleАлгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопииuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
Алгоритм трехмерной реконструкции Электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопии.docx
Розмір:
63.7 KB
Формат:
Microsoft Word XML
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012