Публікація:
Техника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловедении

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorБородин, Б. Г.
dc.contributor.authorАбуанзех Ияд
dc.contributor.authorАнаньин, В. В.
dc.date.accessioned2021-06-05T14:00:27Z
dc.date.available2021-06-05T14:00:27Z
dc.date.issued2002
dc.description.abstractПриводятся результаты разработки схем микроволновой диагностики полупроводников, предназначенных для измерения следующих параметров полупроводниковых материалов и структур: электропроводность; фотопроводимость; время жизни, скорость поверхностной рекомбинации и подвижность носителей заряда; толщина слоев. Схемы построены на микрополосковых линиях с применением программного пакета Microwave Office.uk_UA
dc.identifier.citationБородин Б. Г. Техника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловедении / Б. Г. Бородин, Абуанзех Ияд, В. В. Ананьин // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.–техн. сб. – 2002. – Вып. 130. – С. 79–84.uk_UA
dc.identifier.urihttps://openarchive.nure.ua/handle/document/16337
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectмикроволновая диагностикаuk_UA
dc.subjectфотопроводимостьuk_UA
dc.titleТехника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловеденииuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
2002_130_ RT_79-84.pdf
Розмір:
331.71 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Радіотехніка