Техника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловедении

Бородин, Б. Г.; Абуанзех Ияд; Ананьин, В. В.

Публікація:
Техника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловедении

dc.contributor.author	Бородин, Б. Г.
dc.contributor.author	Абуанзех Ияд
dc.contributor.author	Ананьин, В. В.
dc.date.accessioned	2021-06-05T14:00:27Z
dc.date.available	2021-06-05T14:00:27Z
dc.date.issued	2002
dc.description.abstract	Приводятся результаты разработки схем микроволновой диагностики полупроводников, предназначенных для измерения следующих параметров полупроводниковых материалов и структур: электропроводность; фотопроводимость; время жизни, скорость поверхностной рекомбинации и подвижность носителей заряда; толщина слоев. Схемы построены на микрополосковых линиях с применением программного пакета Microwave Office.	uk_UA
dc.identifier.citation	Бородин Б. Г. Техника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловедении / Б. Г. Бородин, Абуанзех Ияд, В. В. Ананьин // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.–техн. сб. – 2002. – Вып. 130. – С. 79–84.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/16337
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	микроволновая диагностика	uk_UA
dc.subject	фотопроводимость	uk_UA
dc.title	Техника микроволнового контроля в полупроводниковом материаловедении	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication