Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем

Хаханов, В. И.; Емельянов, И. В.; Любарский, М. М.; Чумаченко, С. В.; Литвинова, Е. И.; Тамер Бени Амер

Публікація:
Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Емельянов, И. В.
dc.contributor.author	Любарский, М. М.
dc.contributor.author	Чумаченко, С. В.
dc.contributor.author	Литвинова, Е. И.
dc.contributor.author	Тамер Бени Амер
dc.date.accessioned	2020-06-04T17:44:25Z
dc.date.available	2020-06-04T17:44:25Z
dc.date.issued	2017
dc.description.abstract	Разработаны инновационные методы взятия булевых производных,синтеза тестов на их основе,а также дедуктивного моделирования неисправностей для функциональных элементов заданных кубитными покрытиями.	uk_UA
dc.identifier.citation	Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем / В. И. Хаханов, И. В. Емельянов, М. М. Любарский и др. // Электрон. моделирование. – 2017. –Т. 39, №6. – С. 59–91.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/11988
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.subject	синтез тестов	uk_UA
dc.subject	кубитное покрытие	uk_UA
dc.subject	булева производная	uk_UA
dc.subject	цифровая схема	uk_UA
dc.title	Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication