Анализ источников ПЭМИ в современных ПЭВМ

Лыков, Ю. В.; Сягаева, О. А.

Публікація:
Анализ источников ПЭМИ в современных ПЭВМ

dc.contributor.author	Лыков, Ю. В.
dc.contributor.author	Сягаева, О. А.
dc.date.accessioned	2020-11-05T21:51:17Z
dc.date.available	2020-11-05T21:51:17Z
dc.date.issued	2012
dc.description.abstract	Выполнен анализ возможности появления побочных электромагнитных излучений в современных ПЭВМ. В результате анализа выявлено, что наиболее опасными устройствами вычислительной техники, с точки зрения утечки информации по ПЭМИ, являются: мониторы персональных компьютеров, клавиатуры и принтеры. Приведены результаты экспериментальных исследований наиболее опасных устройств ПЭВМ, подтверждающие наличие в них побочного электромагнитного излучения.	uk_UA
dc.identifier.citation	Лыков Ю. В. Анализ источников ПЭМИ в современных ПЭВМ / Ю. В. Лыков, O. A. Сягаева // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – 2012. – Вып. 169. – С. 196–207.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/13738
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	побочное электромагнитное излучение	uk_UA
dc.title	Анализ источников ПЭМИ в современных ПЭВМ	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication