Структура поля в коаксиальной апертуре резонаторного зонда для сканирующей микроволновой микроскопии

Проказа,  А. М.; Шевченко, С. В.

Публікація:
Структура поля в коаксиальной апертуре резонаторного зонда для сканирующей микроволновой микроскопии

dc.contributor.author	Проказа, А. М.
dc.contributor.author	Шевченко, С. В.
dc.date.accessioned	2024-12-04T16:30:14Z
dc.date.available	2024-12-04T16:30:14Z
dc.date.issued	2010
dc.description.abstract	С помощью численных методов решения уравнений Максвелла изучена структура поля в образце, исследуемом ближнеполевым сканирующим микроволновым микроскопом на с датчиком основе коаксиального конусообразного резонатора. Определено влияние формы острия резонаторного зонда на распределение электромагнитного поля в образце формы острия, величины тангенса угла диэлектрических потерь и диэлектрической проницаемости материала образца, зазора между микрозондом и образцом.
dc.identifier.citation	Проказа А. М. Структура поля в коаксиальной апертуре резонаторного зонда для сканирующей микроволновой микроскопии / А. М. Проказа, С. В. Шевченко // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии (КрыМиКо’2010) : материалы 20-ой Междунар. Крымская конф., 13-17 сентября 2010 г. – Севастополь : Вебер, 2010. – С. 723–724.
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/29362
dc.language.iso	other
dc.publisher	Вебер
dc.subject	микрозонд
dc.subject	микроволновой микроскоп
dc.title	Структура поля в коаксиальной апертуре резонаторного зонда для сканирующей микроволновой микроскопии
dc.type	Conference proceedings
dspace.entity.type	Publication