Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC

Хаханов, В. И.; Ктейман Хассан; Парфентий, А. Н.; Хаханова, И. В.

Публікація:
Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Ктейман Хассан
dc.contributor.author	Парфентий, А. Н.
dc.contributor.author	Хаханова, И. В.
dc.date.accessioned	2016-09-06T12:12:18Z
dc.date.available	2016-09-06T12:12:18Z
dc.date.issued	2007
dc.description.abstract	Предлагаются методы аппаратного моделирования неисправностей и исправного поведения, основанные на методологии HES и PRUS фирмы Aldec, USA. Предлагается структурно-функциональная многозначная аппаратная модель цифрового устройства с шинной организацией линий для многократного повышения быстродействия анализа переходных процессов; представлена аппаратурная реализация троичного метода моделирования исправного поведения HES-MV – Hardware Embedded Simulation based on Multi-Valued alphabet для цифровых проектов вентильного и регистрового уровней описания.	uk_UA
dc.identifier.citation	Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC / В. И. Хаханов, Хассан Ктейман, А. Н. Парфенитий, И. В. Хаханова // Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС). - 2007.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/2187
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.subject	верификация	uk_UA
dc.subject	цифровые системы на кристаллах	uk_UA
dc.subject	анализ переходных процессов	uk_UA
dc.title	Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication