Публікація: Системи позиціонування в скануючій зондовій мікроскопії
| dc.contributor.author | Нікітін, В. Р. | |
| dc.date.accessioned | 2021-11-29T15:53:31Z | |
| dc.date.available | 2021-11-29T15:53:31Z | |
| dc.date.issued | 2021 | |
| dc.description.abstract | Scanning probe microscopes (SPM) are a class of microscopes for obtaining an image of a surface and its local characteristics. The image construction process is based on scanning the surface with a probe. In the general case, it allows to obtain a three-dimensional image of the surface (topography) with high resolution. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Нікітін В. Р. Системи позиціонування в скануючій зондовій мікроскопії / В. Р. Нікітін, науковий керівник – ст. викл. Карнаушенко В. П. // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : матеріали 25-го Міжнар. молодіжн. форуму, 20-22 квітня 2021 р. – Харків : ХНУРЕ, 2021. – Т. 1. – С. 47–48. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | https://openarchive.nure.ua/handle/document/18504 | |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.publisher | ХНУРЕ | uk_UA |
| dc.subject | зондова мікроскопія | uk_UA |
| dc.title | Системи позиціонування в скануючій зондовій мікроскопії | uk_UA |
| dc.type | Conference proceedings | uk_UA |
| dspace.entity.type | Publication |
Файли
Оригінальний пакунок
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- RiM_2021_MEEPP_47-48.pdf
- Розмір:
- 123.76 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Пакунок ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 9.42 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: