Системи позиціонування в скануючій зондовій мікроскопії

Публікація:
Системи позиціонування в скануючій зондовій мікроскопії

dc.contributor.author	Нікітін, В. Р.
dc.date.accessioned	2021-11-29T15:53:31Z
dc.date.available	2021-11-29T15:53:31Z
dc.date.issued	2021
dc.description.abstract	Scanning probe microscopes (SPM) are a class of microscopes for obtaining an image of a surface and its local characteristics. The image construction process is based on scanning the surface with a probe. In the general case, it allows to obtain a three-dimensional image of the surface (topography) with high resolution.	uk_UA
dc.identifier.citation	Нікітін В. Р. Системи позиціонування в скануючій зондовій мікроскопії / В. Р. Нікітін, науковий керівник – ст. викл. Карнаушенко В. П. // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : матеріали 25-го Міжнар. молодіжн. форуму, 20-22 квітня 2021 р. – Харків : ХНУРЕ, 2021. – Т. 1. – С. 47–48.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/18504
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЕ	uk_UA
dc.subject	зондова мікроскопія	uk_UA
dc.title	Системи позиціонування в скануючій зондовій мікроскопії	uk_UA
dc.type	Conference proceedings	uk_UA
dspace.entity.type	Publication