Автоматизована інформаційно-вимірювальна система оптичного контролю гнучких надтонких мікрокабелів

Abstract

Виконано аналіз видів критичних та малозначних дефектів гнучких Al-Pi мікрокабелів та розроблено їх систематизацію. Проведено детальне дослідження методів виявлення дефектів, отримання та обробки інформації, що дозволило вибрати оптимальні підходи для автоматизованого оптичного контролю. Розроблено структурну схему інформаційно-вимірювальної системи (ІВС) оптичного контролю, яка забезпечує ефективне виявлення дефектів у гнучких надтонких мікрокабелів, що застосовуються у сенсорних модулях та цифрових трекових детекторних калориметрах. Виконано технічне забезпечення та оснащення робочого місця ІВС, що включає сучасні засоби оптичного аналізу та комп’ютерної обробки даних. Створено ІВС автоматизованого оптичного контролю, що може використовуватися на виробництві і має широкий набір функцій та характеристик, які дозволяють ефективно виявляти різноманітні поверхневі дефекти при забезпеченні високої якості та надійності гнучких надтонких Al-Pi мікрокабелів. Проаналізовано сучасні методи покращення точності та швидкості оптичного контролю системи, що була розроблена та протестована, що дозволило визначити перспективні напрямки її подальшого вдосконалення.