Публікація:
Вакуумная установка для получения и исследования физических параметров тонких полупроводниковых пленок

dc.contributor.authorГриша, Г. В.
dc.date.accessioned2026-08-27T16:49:25Z
dc.date.issued1969
dc.description.abstractВ последние годы проявляется повышенный интерес к исследованиям физических параметров тонких слоев высокоомных полупроводников, нанесенных на проводящую подложку. Такие исследования имеют как самостоятельное, так и большое прикладное значение. Например, широко используются в настоящее время высокоомные полупроводники в технике телевизионных передающих трубок (видиконов), в электрофотографии и других областях.
dc.identifier.citationГриша Г. В. Вакуумная установка для получения и исследования физических параметров тонких полупроводниковых пленок // Приборы и системы автоматики. 1969. № 9. С. 121-124.
dc.identifier.urihttps://openarchive.nure.ua/handle/document/35989
dc.language.isoother
dc.publisherИзд-во Харьковского ордена Трудового Красного Знамени гос. ун-та им. А. М. Горького
dc.subjectвысокоомный полупроводник
dc.titleВакуумная установка для получения и исследования физических параметров тонких полупроводниковых пленок
dc.typeArticle
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
PSA_1969_N9-121-124.pdf
Розмір:
162.54 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
10.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: