Публікація: Вакуумная установка для получения и исследования физических параметров тонких полупроводниковых пленок
| dc.contributor.author | Гриша, Г. В. | |
| dc.date.accessioned | 2026-08-27T16:49:25Z | |
| dc.date.issued | 1969 | |
| dc.description.abstract | В последние годы проявляется повышенный интерес к исследованиям физических параметров тонких слоев высокоомных полупроводников, нанесенных на проводящую подложку. Такие исследования имеют как самостоятельное, так и большое прикладное значение. Например, широко используются в настоящее время высокоомные полупроводники в технике телевизионных передающих трубок (видиконов), в электрофотографии и других областях. | |
| dc.identifier.citation | Гриша Г. В. Вакуумная установка для получения и исследования физических параметров тонких полупроводниковых пленок // Приборы и системы автоматики. 1969. № 9. С. 121-124. | |
| dc.identifier.uri | https://openarchive.nure.ua/handle/document/35989 | |
| dc.language.iso | other | |
| dc.publisher | Изд-во Харьковского ордена Трудового Красного Знамени гос. ун-та им. А. М. Горького | |
| dc.subject | высокоомный полупроводник | |
| dc.title | Вакуумная установка для получения и исследования физических параметров тонких полупроводниковых пленок | |
| dc.type | Article | |
| dspace.entity.type | Publication |
Файли
Оригінальний пакунок
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- PSA_1969_N9-121-124.pdf
- Розмір:
- 162.54 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Пакунок ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 10.74 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: