Публікація:
Резонаторні та хвилеводні мікрохвильові сенсори в дослідженні властивостей напівпровідників

dc.contributor.authorОксенюк, А. А.
dc.date.accessioned2026-03-03T09:42:51Z
dc.date.issued2025
dc.description.abstractОб’єктом дослідження є процеси взаємодії електромагнітного поля в мікрохвильовому (НВЧ) діапазоні з твердотільними матеріалами — зокрема, напівпровідниковими та діелектричними — у межах резонаторних і хвилеводних сенсорних структур. Така взаємодія лежить в основі методів безконтактної діагностики та дозволяє отримати інформацію про електрофізичні параметри матеріалів, зокрема діелектричну проникність, електропровідність, втрати та інші характеристики, що важливі для застосування в електроніці, радіотехніці та матеріалознавстві. Мета роботи — здійснити комплексне дослідження методів мікрохвильової діагностики електрофізичних властивостей матеріалів шляхом аналізу взаємодії електромагнітного поля з тестовими зразками в різних типах НВЧ структур.
dc.identifier.citationОксенюк А. А. Резонаторні та хвилеводні мікрохвильові сенсори в дослідженні властивостей напівпровідників : пояснювальна записка до кваліфікаційної роботи здобувача вищої освіти на першому (бакалаврському) рівні, спеціальність 171 Електроніка / А. А. Оксенюк ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2025. – 60 с.
dc.identifier.urihttps://openarchive.nure.ua/handle/document/33846
dc.language.isouk
dc.subjectвимірювальний перетворювач
dc.subjectрезонатор
dc.subjectхвилевод
dc.subjectрезонансна частота
dc.subjectтангенс кута втрат
dc.titleРезонаторні та хвилеводні мікрохвильові сенсори в дослідженні властивостей напівпровідників
dc.typeOther
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
2025_B_MEEPP_Oksenuk_AA.pdf
Розмір:
781.89 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
10.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: