Публікація:
Вопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводников

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorГордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.authorЛаркин, С. Ю.
dc.contributor.authorСорока, А. С.
dc.date.accessioned2016-08-01T10:24:02Z
dc.date.available2016-08-01T10:24:02Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstracte-mail: mepu@kture.kharkov.ua In the report the analysis of the basic problems of processing of the primary measuring information in scanning microwave near field microscopy of semiconductors is presented and features of construction of radio images of samples are considered. Цель данной работы: анализ основных проблем обработки первичной изме-рительной информации в ближнеполевой сканирующей микроскопии полупроводников и выработка эффективных алгоритмов получения изображений образцов.uk_UA
dc.identifier.citationГордиенко, Ю. Е. Вопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводников / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, А. С. Сорока // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 264–267.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1702
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectнаноэлектроникаuk_UA
dc.subjectмикроволновая микроскопияuk_UA
dc.subjectмедицинская техникаuk_UA
dc.titleВопросы обработки первичных данных при ближнеполевой микроволновой микроскопии полупроводниковuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
ВОПРОСЫ ОБРАБОТКИ ПЕРВИЧНЫХ ДАННЫХ ПРИ БЛИЖНЕПОЛЕВОЙ МИКРОВОЛНОВОЙ МИКРОСКОПИИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ.docx
Розмір:
203.77 KB
Формат:
Microsoft Word XML
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012