Публікація: Шляхи підвищення ЕРС напівпровідникових елементів на основі термоелектричних ефектів
dc.contributor.author | Мягкий, О. В. | |
dc.contributor.author | Орел, Р. П. | |
dc.contributor.author | Мешков, С. М. | |
dc.contributor.author | Стороженко, В. О. | |
dc.date.accessioned | 2025-01-16T11:48:05Z | |
dc.date.available | 2025-01-16T11:48:05Z | |
dc.date.issued | 2024 | |
dc.description.abstract | У роботі розглянуто розвиток термовольтаичного ефекту у варізонних напівпровідникових багатошарових структурах. Досліджено ефект виникнення електрорушійної сили (ЕРС) у напівпровідникових зразках без ізотипних переходів та бар'єрів типу метал-напівпровідник при їх нагріванні вздовж зразка при термовольтаичному ефекті. Розглянуто можливості отримання стабільної термостимульованої ЕРС у напівпровідникових зразках з неоднорідним складом, зокрема у варізонних напівпровідниках при їх нагріванні. Змодельовано напівпровідник з неоднорідним складом, у якому концентрації носіїв заряду – як електронів, так і дірок, достатньо для виникнення відчутного електричного струму за його збудженні. Розглянуто випадки одиничного варізонного шару напівпровідника та комбінації декількох шарів за різних температурних умов. Проаналізовано виникнення ЕРС і кількісні характеристики цього процесу. Підтверджено, що поява термо ЕРС обумовлюється нерівноважністю стану та неоднорідністю середовища, а також його біполярністю. Показано, що у замкнутому контурі з неоднорідним легуванням та зі змінною шириною забороненої зони виникає ЕРС в умовах однорідного нагрівання всього контуру. Отримано рівняння, яке описує виникнення ЕРС у варізонних напівпровідниках. Для розрахунку теплового поля побудовано теплофізичну модель на основі нестаціонарного рівняння теплопровідності з граничними умовами 2-го та 3-го роду. Використовувана теплофізична модель характеризує двошарову структуру з параметрами, що плавно змінюються. Результати чисельного експерименту дозволили отримати рекомендовані межі температури до роботи розглянутих елементів з урахуванням твердого розчину SiGe і розрахувати величину додаткової ЕРС. | |
dc.identifier.citation | Шляхи підвищення ЕРС напівпровідникових елементів на основі термоелектричних ефектів / О. В. Мягкий, Р. П. Орел, С. М. Мешков, В. О. Стороженко // Радіотехніка : Всеукр. міжвід. наук.-техн. зб. - 2024. - Вип. 1(216). – С. 103–107. | |
dc.identifier.doi | https://doi.org/10.30837/rt.2024.1.216.10 | |
dc.identifier.uri | https://openarchive.nure.ua/handle/document/29606 | |
dc.language.iso | uk | |
dc.publisher | ХНУРЕ | |
dc.subject | варизонний напівпровідник | |
dc.subject | SiGe структура | |
dc.subject | гетероперехід | |
dc.subject | термоЕРС | |
dc.subject | рівень Фермі | |
dc.subject | теплофізична модель | |
dc.subject | метод кінцевих різниць | |
dc.title | Шляхи підвищення ЕРС напівпровідникових елементів на основі термоелектричних ефектів | |
dc.type | Article | |
dspace.entity.type | Publication |
Файли
Оригінальний пакет
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- Miagkyi_RT_216_2024.PDF
- Розмір:
- 541.8 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 9.55 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: