Публікація:
Інформаційні технології обробки Big Data при аналізі просторової структури напівпровідникових матеріалів

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorПятайкіна, М. І.
dc.contributor.authorСтрілкова, Т. О.
dc.date.accessioned2025-05-23T18:42:44Z
dc.date.available2025-05-23T18:42:44Z
dc.date.issued2025
dc.description.abstractНапівпровідники – основа всієї сучасної електроніки. Їх електричні, оптичні, теплові та квантові властивості напряму залежать від просторової структури. Будь-які дефекти кристалічної решітки (дислокації, вакансії, включення) можуть істотно вплинути на провідність, надійність та довговічність електронних компонентів та пристроїв
dc.identifier.citationПятайкіна М. І. Інформаційні технології обробки Big Data при аналізі просторової структури напівпровідникових матеріалів / М. І. Пятайкіна, Т. О. Стрілкова // Приладобудування: стан і перспективи : збірник матеріалів XXІV-ї Міжнар. наук.-техн. конф., 13-14 травня 2025 р. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2025. – С. 143-145.
dc.identifier.urihttps://openarchive.nure.ua/handle/document/31255
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.subjectBig Data
dc.subjectнапівпровідники
dc.subjectдефектоутворення
dc.titleІнформаційні технології обробки Big Data при аналізі просторової структури напівпровідникових матеріалів
dc.typeConference proceedings
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
bigdata.pdf
Розмір:
628.27 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
9.55 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра мікроелектроніки, електронних приладів та пристроїв (МЕЕПП)