Технологія тестування цифрових пристроїв виробником за сценаріями

Федосов, Д. Ю.

Публікація:
Технологія тестування цифрових пристроїв виробником за сценаріями

dc.contributor.author	Федосов, Д. Ю.
dc.date.accessioned	2023-02-09T18:26:53Z
dc.date.available	2023-02-09T18:26:53Z
dc.date.issued	2022
dc.description.abstract	Апаратна реалізація методу тестування мікроконтрлолерних пристроїв на різних технологічних платформах складається з двох плат, які узгоджено правилами підключення без відхилення від коректності роботи. Платою для тестування (ПДТ) обрана плата на базі мікроконтролера STM32F103C8T6. Платою, що тестується (ТП) обрана плата Arduino UNO. Програмна реалізація ПДТ виконана за допомогою середовища СubeMX та Keil for ARM. Програмна реалізація ТП виконана в середовищі Arduino IDE. Результат програмно-апаратної реалізації відображаються за допомогою зчитування сигналів логічним аналізатором Saleae Logic від ТП. Моделювання роботи системи проведено за «позитивним» та «помилковим» тестовим сценарієм. Результати тестування надсилаються від Виробника до Замовника у вигляді класичного тест-звіту з переліком кількості проведених тест сценаріїв та дефектів, що діагностовано.
dc.identifier.citation	Федосов Д. Ю. Технологія тестування цифрових пристроїв виробником за сценаріями : пояснювальна записка до кваліфікаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 123 – Комп’ютерна інженерія / Д. Ю. Федосов ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2022. – 63 с.
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/21774
dc.language.iso	uk
dc.subject	мікроконтролер
dc.subject	arduino
dc.subject	програмно-апаратний комплекс
dc.subject	логічний аналізатор
dc.subject	тестовий звіт
dc.title	Технологія тестування цифрових пристроїв виробником за сценаріями
dc.type	Other
dspace.entity.type	Publication