Метрики на множествах ключевых точек изображений

Abstract

Приведены новые результаты по синтезу и применению метрик в методах распознавания, устойчивых к частичным искажениям визуальных объектов. В качестве структурных признаков используется множество характерных точек. Описаны результаты имитационного моделирования в целях сравнительной оценки помехозащищенности обсуждаемых метрик.The opportunities of metrics application on the sets of key points are researched at images recognition. The features of these metrics are stable to partial distortions of the set of attributes. The results of noise immunity researches are shown.