Технологии условного диагностирования логических устройств

Хаханов, В. И.

Публікація:
Технологии условного диагностирования логических устройств

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.date.accessioned	2020-08-08T15:25:22Z
dc.date.available	2020-08-08T15:25:22Z
dc.date.issued	1999
dc.description.abstract	Дан анализ состояния проблемы контроля и поиска дефектов в современных логических устройствах. Предложена методика условного диагностирования введенного класса макродефекгов логических устройств с использованием методов обратного прослеживания и половинного деления на основе выполнения безусловных процедур структурного анализа и моделирования результатов диагноза. The analysis of a current state of the problem of monitoring and searching faults in modem logic devices is given. The technique of conditional diagnosing of the introduced macrofaults class of logic devices using the methods of backtracing and dichotomy on the base of realizations of unconditional procedures of the structural analysis and simulation of outcomes of the diagnosis is offered.	uk_UA
dc.identifier.citation	Хаханов В. И. Технологии условного диагностирования логических устройств / В. И. Хаханов // Проблемы бионики : всеукраинский межвед. науч.-техн. сб. – Х. : ХТУРЭ, 1999. – Вып. 50. – С. 148–156.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/12649
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХТУРЭ	uk_UA
dc.subject	проблемы контроля и поиска дефектов	uk_UA
dc.subject	методика условного диагностирования	uk_UA
dc.title	Технологии условного диагностирования логических устройств	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication