Публікація: Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису
| dc.contributor.author | Зайченко, С. А. | |
| dc.contributor.author | Каминская, М. А. | |
| dc.date.accessioned | 2016-09-13T09:10:50Z | |
| dc.date.available | 2016-09-13T09:10:50Z | |
| dc.date.issued | 2007 | |
| dc.description.abstract | Предлагается метод анализа тестопригодности цифрового устройства, представленного на системном уровне в виде кода VHDL и трансформированого в ориентированный граф для упрощения задач верификации, синтеза тестов и/или улучшения покрытия неисправностей для заданных входных наборов. Метод основан на топологическом анализе синтезированного устройства и последующей его модификации путем разделения режимов работы (тестовый и функциональный) в целях улучшения тестопригодности и упрощения решения задач тестирования. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Зайченко С. А. Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису / Зайченко С. А., Каминская М. А. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2007 | uk_UA |
| dc.identifier.uri | http://openarchive.nure.ua/handle/document/2447 | |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) | uk_UA |
| dc.subject | тестопригодность | uk_UA |
| dc.subject | управляемость | uk_UA |
| dc.subject | наблюдаемость | uk_UA |
| dc.subject | путь сканирования | uk_UA |
| dc.subject | детерминированный тест | uk_UA |
| dc.subject | взвешенный тест | uk_UA |
| dc.title | Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| dspace.entity.type | Publication |
Файли
Оригінальний пакунок
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- Зайченко_РЕКС_2007_7(26)_1.pdf
- Розмір:
- 1.55 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Пакунок ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 9.42 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: