Публікація:
НВЧ методи діагностики напівпровідникових та діелектричних матеріалів

dc.contributor.authorЛяшенко, І. С.
dc.contributor.authorБабиченко, О. Ю.
dc.date.accessioned2021-03-04T20:10:39Z
dc.date.available2021-03-04T20:10:39Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractThe most common methods and tools for diagnosing materials are based on microwave resonator and waveguide methods. Diagnostic units based on these methods are used in research laboratories, production lines, and the like. This tool is one of the most available nowadays. With its help it is possible to carry out both non-destructive diagnostics of technological materials, objects and environments, as well as the process of quality control of the manufactured products. It should be noted that the inclusion of the sample for such installation is external, which gives a number of advantages over installations with internal inclusion.uk_UA
dc.identifier.citationЛяшенко І. С. НВЧ методи діагностики напівпровідникових та діелектричних матеріалів / І. С. Ляшенко, О. Ю. Бабиченко // Радіоелектроніка та молодь в XXI столітті: матеріали XXIV міжнародного молодіжного форуму, 7-9 квітня, 2020р. - Харків: ХНУРЕ, 2020. - Т.1. - 2020р. - С. - 65-66.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/14774
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherХНУРЕuk_UA
dc.subjectНВЧuk_UA
dc.subjectметоди діагностикиuk_UA
dc.subjectнапівпровідникові матеріалиuk_UA
dc.subjectдіелектричні матеріалиuk_UA
dc.titleНВЧ методи діагностики напівпровідникових та діелектричних матеріалівuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
Lyashenko_I_S_2020_T1-66-67.pdf
Розмір:
285.43 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: