Публікація: НВЧ методи діагностики напівпровідникових та діелектричних матеріалів
dc.contributor.author | Ляшенко, І. С. | |
dc.contributor.author | Бабиченко, О. Ю. | |
dc.date.accessioned | 2021-03-04T20:10:39Z | |
dc.date.available | 2021-03-04T20:10:39Z | |
dc.date.issued | 2020 | |
dc.description.abstract | The most common methods and tools for diagnosing materials are based on microwave resonator and waveguide methods. Diagnostic units based on these methods are used in research laboratories, production lines, and the like. This tool is one of the most available nowadays. With its help it is possible to carry out both non-destructive diagnostics of technological materials, objects and environments, as well as the process of quality control of the manufactured products. It should be noted that the inclusion of the sample for such installation is external, which gives a number of advantages over installations with internal inclusion. | uk_UA |
dc.identifier.citation | Ляшенко І. С. НВЧ методи діагностики напівпровідникових та діелектричних матеріалів / І. С. Ляшенко, О. Ю. Бабиченко // Радіоелектроніка та молодь в XXI столітті: матеріали XXIV міжнародного молодіжного форуму, 7-9 квітня, 2020р. - Харків: ХНУРЕ, 2020. - Т.1. - 2020р. - С. - 65-66. | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://openarchive.nure.ua/handle/document/14774 | |
dc.language.iso | uk | uk_UA |
dc.publisher | ХНУРЕ | uk_UA |
dc.subject | НВЧ | uk_UA |
dc.subject | методи діагностики | uk_UA |
dc.subject | напівпровідникові матеріали | uk_UA |
dc.subject | діелектричні матеріали | uk_UA |
dc.title | НВЧ методи діагностики напівпровідникових та діелектричних матеріалів | uk_UA |
dc.type | Conference proceedings | uk_UA |
dspace.entity.type | Publication |
Файли
Оригінальний пакет
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- Lyashenko_I_S_2020_T1-66-67.pdf
- Розмір:
- 285.43 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 9.42 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: