Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов

Хаханов, В. И.; Елисеев, В. В.

Публікація:
Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Елисеев, В. В.
dc.date.accessioned	2016-09-07T05:54:22Z
dc.date.available	2016-09-07T05:54:22Z
dc.date.issued	2006
dc.description.abstract	Предлагается подход к использованию IEEE стандартов тестирования для диагностирования сложных иерархических программно-технических комплексов, относящихся к критическим технологиям. Используются различные ad-hoc решения тестирования систем на кристаллах. Предложен алгоритм тестирования программно-технических комплексов на различных уровнях иерархии.	uk_UA
dc.identifier.citation	Хаханов В. И. Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов / В. И. Хаханов, В. В. Елисеев // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2006	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/2206
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)	uk_UA
dc.subject	System on Chip (SoC)	uk_UA
dc.subject	Network on Chip (NoC)	uk_UA
dc.subject	IEEE стандарты	uk_UA
dc.subject	ad-hoc технологии	uk_UA
dc.subject	СTL	uk_UA
dc.title	Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication