Вплив нагрівання на електропровідні властивості плівок з оксиду ніобію, що використовуються в електролітичних конденсаторах

Abstract

Структурні неоднорідності у робочому шарі електронного пристрою, наприклад, у діелектричному шарі конденсатора, знижують якість електронної техніки. Це пояснюється тим, що інтегральні електрофізичні параметри електронних пристроїв визначаються локально зміненими властивостями робочого шару діелектрика, які можуть відрізнятися від властивостей основної його частини. Локальне посилення електропровідності в діелектричному шарі тягне за собою розігрів дефектного місця, що, у свою чергу, посилює локальну провідність діелектрика і призводить до його теплового пробою. Одним із методів виявлення дефектних місць у діелектричних плівках є метод електрографії, який дозволяє візуалізувати ці місця.